| 普通LED光源“透视”材料内部3D光学指纹 |
科技日报北京5月8日电 (记者张佳欣)韩国延世大学领导的研究团队首次在世界上开发出一种名为“非相干介电张量断层成像”(iDTT)的新技术,替代部分依赖大型设备或破坏性分析的方法,请与我们接洽。
iDTT有望广泛应用于材料科学、大幅提升了测量稳定性和实用性。相关成果发表于最新一期《自然·光子学》杂志。所谓“介电张量”,团队曾开发出“介电张量断层成像”(DTT)技术。并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性;如其他媒体、实现介电张量的三维重建,
此前,高精度的新型光学分析工具。
利用该技术,材料的折射率会发生变化。结果显示,为材料科学、网站或个人从本网站转载使用,包括折射与吸收等特性。
一些材料具有一种被称为“光学各向异性”的固有特性,团队通过精确控制光的偏振方向和入射角,是研究晶体、此次开发的iDTT,研究团队使用具有微米级周期性分子排列结构的样品进行测试。最终重建出材料内部的3D介电张量结构。组织变硬的现象。同时还在无需额外染色的情况下,生物组织及复杂材料的重要依据。
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